透過型電子顕微鏡(TEM)

「TITAN X-FEG」FEI製 続きを見る→

走査型電子顕微鏡(SEM)

「Scios」FEI製 続きを見る→

イオンミリング装置

「低角度イオンポリシングシステム Model 1010A」FISCHIONE製 続きを見る→

アーク溶解炉

「アーク溶解炉 ACM-DS-01」大亜真空製

アーク放電により発生したビームを試料に照射し、真空またはSR雰囲気下でインゴットを得ることが出来ます。

引っ張り試験機

「引っ張り試験機 AG-1S」島津製作所製

試験片の軸方向に引っ張り、破断までの変化とこれに対応する力を計測し、その材料に対する抵抗性の大小を知る試験方法で、降伏点又は耐力、引っ張強さ、破断強さ、降伏伸び、破断伸び、絞りなどを求める試験方法です。

示差走査熱量分析(DSC)

「島津示差走査熱量計」島津製作所製

DSC(Differential scanning calorimetry)は、測定試料と基準物質との間の熱量の差を計測することで、融点やガラス転移点などを測定する熱分析の手法です。

イオンスライサー

「JEOL EM-09100IS イオンスライサー」日本電子製

イオンポリッシャー

「JEOL SM-09020CP クロスセクションポリッシャー」日本電子製

集束イオンビーム(FIB)装置

「HITACHI FB-2000K」

単結晶育成装置

「XXXX」

高温クエンチ炉

「XXXX」

電気抵抗測定装置

「XXXX」

硬度測定装置

「XXXX」

ナノインデンター

「XXXX」

電解研磨装置

「XXXX」